Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Mitani A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, TFA-MOD process, substrate LaAlO3, microstructure, fabrication
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Tanaka T., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, microstructure, fabrication
Kiss T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Matsuda J., Mukaida M., Nakaoka K., Yamada K., Mori N., Tada K., Yoshida J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate LaAlO3, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, composition, microstructure, critical caracteristics
Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Imamura K., Yamada Y., Miyata S., Nakao K., Chikumoto N., Ibi A., Yoshizumi M., Kato J., Matsekh A., Abiru K., Honda Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, ac losses, critical caracteristics, numerical analysis
Ключевые слова: SMES, HTS, YBCO, coated conductors, coils toroidal, design parameters, power equipment
Nakamura T., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Shiohara Y., Inoue M., Yamada Y., Miyata S., Fujiwara T., Ibi A., Mitsui D.
Nakamura T., Kiss T., Shiohara Y., Inoue M., Imamura K., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Ibi A., Shoyama T., Koyanagi S., Mitsui D.
Nakamura T., Takahashi K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Shiohara Y., Inoue M., Yamada Y., Miyata S., Fujiwara T., Ibi A., Mitsui D., Motoyama K.
Nakamura T., Takahashi K., Awaji S., Watanabe K., Kiss T., Inoue M., Yamada Y., Ibi A., Shiohara Y.Y., Mitsui D., Fujiwara T.N.
Nakamura T., Takeo M., Kiss T.(kiss@sc.kyushu-u.ac.jp), Inoue M., Imamura K., Koyanagi K., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, films epitaxial, substrate SrTiO3, defects, local distribution, current density, current distribution, measurement technique
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Tokunaga Y., Izumi T., Shiohara Y., Inoue M., Kakimoto K., Matsuda J., Sawa H., Tsuda Y.
Iijima Y., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Tokunaga Y., Imamura K., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Matsuda J., Koyanagi S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, trapped field, measurement technique, experimental results, magnetic properties
Iijima Y., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Tokunaga Y., Imamura K., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp), Tokutomi H., Shoyama T.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y.(fukumoto@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Sawa H.
Otabe E.S., Matsushita T., Kuga T., Inoue M., Kiss T., Iijima Y., Kakimoto K., Saitoh T., Yamauchi K.(yamauchi@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Kiuchi M.
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Kuga T., Ishimaru M., Matsushita T., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp)
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Saitoh T., Shiohara Y., Kiss T.(kiss@sc.kyushu-u.ac.jp), Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Irie S., Ohta T., Imamura K., Yasunaga M., Matsushita T., Kakimoto K.
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Matsushita T., Kakimoto K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.